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三維光學輪廓儀檢測設備主要對各種產品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波紋度、腐蝕情況、孔隙間隙、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、臺階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進行測量和分析。是一款非接觸測量樣品表面形貌的光學測量儀器。三維光學輪廓儀檢測設備是一款非接觸測量樣品表面形貌的光學測量儀器，主要對各種產品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波紋度、腐蝕情況、孔隙間隙、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、臺階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進行測量和分析。下面讓我們一...

納米壓痕儀主要用于微納米尺度薄膜材料的硬度與楊氏模量測試，測試結果通過力與壓入深度的曲線計算得出，無需通過顯微鏡觀察壓痕面積。下面讓我們一起來了解一下微納米壓痕儀的主要功能吧：1.連續剛度測量(CSM)CSM技術包括在壓痕過程中測量力學性能隨深度、力、時間或頻率變化的函數。該方案采用恒定應變速率試驗，測量硬度和模量作為深度或載荷的函數，是學術界和工業界常用的試驗方法。CSM還用于其他高級測試，包括用于存儲和損耗模量測量的ProbeDMA™方法和AccuFilm&t...

高精度原子力顯微鏡的工作模式是以針尖與樣品之間的作用力的形式來分類的。主要有以下3種操作模式：接觸模式，非接觸模式和敲擊模式。1、接觸模式從概念上來理解，接觸模式是AFM最直接的成像模式。正如名字所描述的那樣，AFM在整個掃描成像過程之中，探針針尖始終與樣品表面保持緊密的接觸，而相互作用力是排斥力。掃描時，懸臂施加在針尖上的力有可能破壞試樣的表面結構，因此力的大小范圍在10-10～10-6N。若樣品表面柔嫩而不能承受這樣的力，便不宜選用接觸模式對樣品表面進行成像。2、非接觸模...

高精度原子力顯微鏡是一種可用來研究包括絕緣體在內的固體材料表面結構的分析儀器。它主要由帶針尖的微懸臂、微懸臂運動檢測裝置、監控其運動的反饋回路、使樣品進行掃描的壓電陶瓷掃描器件、計算機控制的圖像采集、顯示及處理系統組成。微懸臂運動可用如隧道電流檢測等電學方法或光束偏轉法、干涉法等光學方法檢測，當針尖與樣品充分接近相互之間存在短程相互斥力時，檢測該斥力可獲得表面原子級分辨圖像，一般情況下分辨率也在納米級水平。AFM測量對樣品無特殊要求，不需要對樣品進行特殊處理，僅在大氣環境下就...

光學元件在各個領域都有廣泛應用，對光學元件的表面加工精度提出越來越高的要求。如何檢測光學元件的加工精度，從而用于優化加工方法，保證最終元器件的性能指標，是光學元件加工領域的關鍵問題之一。光學元件的加工精度包括表面質量和面型精度，這些參數會影響其對光信號的傳播，進而影響最終器件的性能。此外，各種新型光學元件也需要檢測其表面輪廓，比如非球面，衍射光學元件，微透鏡陣列等。除了最終光學元件的加工精度以外，各種光學元件加工工藝也需要檢測中間過程的三維形貌以保證最終產品的精度，包括注塑、...

臺式納米壓痕儀主要用于微納米尺度薄膜材料的硬度與楊氏模量測試，測試結果通過力與壓入深度的曲線計算得出，無需通過顯微鏡觀察壓痕面積。劃痕法通過使用不同的傳感器(聲發射、劃痕位移、摩擦力)和視頻顯微鏡觀察獲得臨界載荷數據來量化不同的膜-基材組合的結合性能。主要研究材料的磨損或去除機制，廣泛應用于薄膜或涂層結合強度的測試。影響納米劃痕過程的主要因素包括壓頭類型、劃痕速度、劃痕深度和材料特性等.在納米壓痕測試時的常見問題如下：①納米壓痕條件設置，幾種模式的區別?納米壓痕分為靜態位移控...

Profilm3D是一款兼具垂直掃描干涉(VSI)和高精確度相移干涉(PSI)技術的經濟型光學輪廓儀，其可以用于多種用途的高精度表面測量。Profilm3D光學輪廓儀具有以下優點：?價格優勢：市場上具性價比的白光干涉輪廓儀，具有價格優勢的高精度輪廓儀。?快速測量大面積區域：測量范圍為毫米級別，配置XY樣品臺達100mm*100mm，可實現大面積樣品的輕松測量；?簡單易用：只需將樣品放置于樣品臺上，即可直接進行測量；?可以測量非接觸式非平坦樣品：由于光學輪廓測量法是一種非接觸式...

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